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镀膜产品和X射线检测与结构分析服务
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上海益乔    等级  

楼主 发表于  2016/6/23 15:48:00    编 辑   

本公司开展镀膜服务:

1. 崭新磁控溅射镀膜机:

(1)配有3个靶,可以不间断连续镀3种薄膜;

(2)配有膜厚监控仪,镀膜厚度可以精确到1.0 nm(甚至更低);

(3)镀膜工艺具备良好的一致性和稳定性;

(4)配有直流电源和射频电源,导电材料和绝缘材料都可以镀膜;

(5)配有偏压电源,薄膜附着力强。

2. 备有40多种靶材(详见镀膜材料列表),几乎所有金属材料都可以镀;如有特殊要求(如绝缘材料),请客户自己提供靶材,镀膜后寄回客户。

3. 依据镀膜厚度相应收取镀膜费用。

4. 可靠的服务保障:可以按客户要求进行试验和改进,如果不满足要求,不收费。

5. Pr   镨
  Nd  钕
  Sm  钐
  Gd  钆
  Tb  铽
  Dy  镝
  Ho  钬
  Er   铒
  Yb  镱
  Ce  铈
  La   镧
  Y   钇
  Hf   铪
  Pd  钯
  Pt   铂
  TiN
  ZrB2
  TiB2
  Cu2O
  MoS2
  ZnO:Al


薄膜材料的X射线检测与结构分析服务:

服务项目:
1.单晶、外延层材料的高分辨率X射线衍射检测与分析
1.GaN, AlN, InGaN, AlGaN, 蓝宝石等
2.GaAs, InP, AlGaAs, InGaAs, InGaAsP, AlGaInP等
3.Si, Ge, SiC, SiGe, Si:C, Si:P等
4.GaSb, InSb等
5.CdZnTe, HgCdTe等
2.薄膜材料的X射线反射率检测与分析
1.金属膜、介电膜等
3.多晶薄膜材料的X射线衍射检测与分析

服务内容:
1.  高分辨率X射线衍射检测与分析
1.Theta-2Theta扫描(Omega-2Theta扫描)
2.摇摆曲线扫描
3.倒易空间map(RSM)测量
4.外延层组分分析
5.外延层应变、弛豫度、失配度分析
6.晶体质量评估
7.多量子阱(MQW)、超晶格(SL)结构参数检测与分析
2.  X射线反射率检测与分析
1.镜面反射扫描
2.薄膜厚度
3.薄膜密度
4.薄膜粗糙度
5.薄膜孔隙率
6.多层膜结构解析
3.  多晶薄膜X射线衍射检测与分析
1.2Theta-Theta扫描
2.薄膜掠入射XRD
3.晶粒尺寸分析
上海益乔    等级  

2 楼 发表于  2016/6/24 16:38:37    编 辑   

本公司开展镀膜服务:

1. 崭新磁控溅射镀膜机:

(1)配有3个靶,可以不间断连续镀3种薄膜;

(2)配有膜厚监控仪,镀膜厚度可以精确到1.0 nm(甚至更低);

(3)镀膜工艺具备良好的一致性和稳定性;

(4)配有直流电源和射频电源,导电材料和绝缘材料都可以镀膜;

(5)配有偏压电源,薄膜附着力强。

2. 备有40多种靶材(详见镀膜材料列表),几乎所有金属材料都可以镀;如有特殊要求(如绝缘材料),请客户自己提供靶材,镀膜后寄回客户。

3. 依据镀膜厚度相应收取镀膜费用。

4. 可靠的服务保障:可以按客户要求进行试验和改进,如果不满足要求,不收费。

5.镀膜材料列表:
  Pr   镨
  Nd  钕
  Sm  钐
  Gd  钆
  Tb  铽
  Dy  镝
  Ho  钬
  Er   铒
  Yb  镱
  Ce  铈
  La   镧
  Y   钇
  Hf   铪
  Pd  钯
  Pt   铂
  TiN
  ZrB2
  TiB2
  Cu2O
  MoS2
  ZnO:Al


薄膜材料的X射线检测与结构分析服务:

服务项目:
1.单晶、外延层材料的高分辨率X射线衍射检测与分析
1.GaN, AlN, InGaN, AlGaN, 蓝宝石等
2.GaAs, InP, AlGaAs, InGaAs, InGaAsP, AlGaInP等
3.Si, Ge, SiC, SiGe, Si:C, Si:P等
4.GaSb, InSb等
5.CdZnTe, HgCdTe等
2.薄膜材料的X射线反射率检测与分析
1.金属膜、介电膜等
3.多晶薄膜材料的X射线衍射检测与分析

服务内容:
1.  高分辨率X射线衍射检测与分析
1.Theta-2Theta扫描(Omega-2Theta扫描)
2.摇摆曲线扫描
3.倒易空间map(RSM)测量
4.外延层组分分析
5.外延层应变、弛豫度、失配度分析
6.晶体质量评估
7.多量子阱(MQW)、超晶格(SL)结构参数检测与分析
2.  X射线反射率检测与分析
1.镜面反射扫描
2.薄膜厚度
3.薄膜密度
4.薄膜粗糙度
5.薄膜孔隙率
6.多层膜结构解析
3.  多晶薄膜X射线衍射检测与分析
1.2Theta-Theta扫描
2.薄膜掠入射XRD
3.晶粒尺寸分析

业务咨询联系人:陆小姐 13901753943 021-58885662 邮箱:sales@ebridge.net.cn
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