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| 镀膜产品和X射线检测与结构分析服务 | |
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上海益乔 等级 ★ 楼主 发表于 2016/6/23 17:07:04 编 辑 |
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本公司开展镀膜服务: 1. 崭新磁控溅射镀膜机： （1）配有3个靶，可以不间断连续镀3种薄膜； （2）配有膜厚监控仪，镀膜厚度可以精确到1.0 nm（甚至更低）； （3）镀膜工艺具备良好的一致性和稳定性； （4）配有直流电源和射频电源，导电材料和绝缘材料都可以镀膜； （5）配有偏压电源，薄膜附着力强。 2. 备有40多种靶材（详见镀膜材料列表），几乎所有金属材料都可以镀；如有特殊要求（如绝缘材料），请客户自己提供靶材，镀膜后寄回客户。 3. 依据镀膜厚度相应收取镀膜费用。 4. 可靠的服务保障：可以按客户要求进行试验和改进，如果不满足要求，不收费。 5. Pr 镨 Nd 钕 Sm 钐 Gd 钆 Tb 铽 Dy 镝 Ho 钬 Er 铒 Yb 镱 Ce 铈 La 镧 Y 钇 Hf 铪 Pd 钯 Pt 铂 TiN ZrB2 TiB2 Cu2O MoS2 ZnO:Al 薄膜材料的X射线检测与结构分析服务： 服务项目： 1.单晶、外延层材料的高分辨率X射线衍射检测与分析 1.GaN, AlN, InGaN, AlGaN, 蓝宝石等 2.GaAs, InP, AlGaAs, InGaAs, InGaAsP, AlGaInP等 3.Si, Ge, SiC, SiGe, Si:C, Si:P等 4.GaSb, InSb等 5.CdZnTe, HgCdTe等 2.薄膜材料的X射线反射率检测与分析 1.金属膜、介电膜等 3.多晶薄膜材料的X射线衍射检测与分析 服务内容： 1. 高分辨率X射线衍射检测与分析 1.Theta-2Theta扫描(Omega-2Theta扫描) 2.摇摆曲线扫描 3.倒易空间map(RSM)测量 4.外延层组分分析 5.外延层应变、弛豫度、失配度分析 6.晶体质量评估 7.多量子阱(MQW)、超晶格(SL)结构参数检测与分析 2. X射线反射率检测与分析 1.镜面反射扫描 2.薄膜厚度 3.薄膜密度 4.薄膜粗糙度 5.薄膜孔隙率 6.多层膜结构解析 3. 多晶薄膜X射线衍射检测与分析 1.2Theta-Theta扫描 2.薄膜掠入射XRD 3.晶粒尺寸分析 业务咨询联系人：陆小姐 13901753943 021-58885662 邮箱：sales@ebridge.net.cn |
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上海益乔 等级 ★ 2 楼 发表于 2016/6/24 16:37:42 编 辑 |
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本公司开展镀膜服务: 1. 崭新磁控溅射镀膜机： （1）配有3个靶，可以不间断连续镀3种薄膜； （2）配有膜厚监控仪，镀膜厚度可以精确到1.0 nm（甚至更低）； （3）镀膜工艺具备良好的一致性和稳定性； （4）配有直流电源和射频电源，导电材料和绝缘材料都可以镀膜； （5）配有偏压电源，薄膜附着力强。 2. 备有40多种靶材（详见镀膜材料列表），几乎所有金属材料都可以镀；如有特殊要求（如绝缘材料），请客户自己提供靶材，镀膜后寄回客户。 3. 依据镀膜厚度相应收取镀膜费用。 4. 可靠的服务保障：可以按客户要求进行试验和改进，如果不满足要求，不收费。 5.镀膜材料列表： Pr 镨 Nd 钕 Sm 钐 Gd 钆 Tb 铽 Dy 镝 Ho 钬 Er 铒 Yb 镱 Ce 铈 La 镧 Y 钇 Hf 铪 Pd 钯 Pt 铂 TiN ZrB2 TiB2 Cu2O MoS2 ZnO:Al 薄膜材料的X射线检测与结构分析服务： 服务项目： 1.单晶、外延层材料的高分辨率X射线衍射检测与分析 1.GaN, AlN, InGaN, AlGaN, 蓝宝石等 2.GaAs, InP, AlGaAs, InGaAs, InGaAsP, AlGaInP等 3.Si, Ge, SiC, SiGe, Si:C, Si:P等 4.GaSb, InSb等 5.CdZnTe, HgCdTe等 2.薄膜材料的X射线反射率检测与分析 1.金属膜、介电膜等 3.多晶薄膜材料的X射线衍射检测与分析 服务内容： 1. 高分辨率X射线衍射检测与分析 1.Theta-2Theta扫描(Omega-2Theta扫描) 2.摇摆曲线扫描 3.倒易空间map(RSM)测量 4.外延层组分分析 5.外延层应变、弛豫度、失配度分析 6.晶体质量评估 7.多量子阱(MQW)、超晶格(SL)结构参数检测与分析 2. X射线反射率检测与分析 1.镜面反射扫描 2.薄膜厚度 3.薄膜密度 4.薄膜粗糙度 5.薄膜孔隙率 6.多层膜结构解析 3. 多晶薄膜X射线衍射检测与分析 1.2Theta-Theta扫描 2.薄膜掠入射XRD 3.晶粒尺寸分析 业务咨询联系人：陆小姐 13901753943 021-58885662 邮箱：sales@ebridge.net.cn |
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